ОПИСАНИЕ ДОКУМЕНТА ГОСТ 18986.7-73
| Номер документа | ГОСТ 18986.7-73 |
| Наименование документа | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда |
| Наименование по английски | Semiconductor diodes. Methods for measuring life time |
| дата документа | 01.01.1975 |
ГОСТ 18986.7-73
Код КГС Э29 ГОСТ 18986.7-73
Код ОКС 31.080.10 ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73
| К началу списка |
ГОСТ 24975.1-89 Этилен и пропилен. Хроматографические методы анализа Ethylene and propylene. Chromatographic methods of analysis
МИ 2246-93 ГСИ. Погрешности измерений. Обозначения
Обзор Прорыв к уровню обслуживания мирового класса с использованием методологии "шесть сигма" Review. Breakthrough to World Class Service Levels with Six Sigma
ГОСТ 20159-74 Плиты модельные со сменными деревянными вкладышами для опоки размерами в свету 1000х800 мм на формовочные литейные машины с поворотом полуформы с допрессовкой. Конструкция и размеры Pattern plates with changeable wooden inserts for moulding box having inside dimensions 100x800 mm for moulding foundry machine
ГОСТ 25686-85 Манипуляторы, автооператоры и промышленные роботы. Термины и определения Manipulators, auto-operators and industrial robots. Terms and definitions
ГОСТ 9688-82 Наконечники кабельные кольцевые. Конструкция и размеры Ring cable thimbles fastened by swaging. Design and dimensions
МУ 3.3.2.056-96 Определение класса чистоты производственных помещений и рабочих мест
ГОСТ 7995-80 Краны соединительные стеклянные. Технические условия Glass stopcocks. Specifications